本測(cè)量設(shè)備是用于各種材料散射特性測(cè)量。通過(guò)光源一維旋轉(zhuǎn)，探測(cè)器二維旋轉(zhuǎn)實(shí)現(xiàn)不同入射和反射（透射）幾何條件下樣品反射、透射輻亮度的測(cè)量。系統(tǒng)包括準(zhǔn)直光源、光源支架、可調(diào)樣品支架、探測(cè)器、探測(cè)器旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)、探測(cè)器支架及測(cè)試軟件等部分。

BRDF/BTDF測(cè)試儀 主要測(cè)試參數(shù)

 復(fù)色光和單色光BRDF

 復(fù)色光和單色光BTDF

 不同角度反射透射光通量

 不同角度反射透射輻射亮度

 材料不同角度散射光色溫，色坐標(biāo)

BRDF/BTDF測(cè)試儀 系統(tǒng)結(jié)構(gòu)

1. 光源

 為提高樣品散射信號(hào)的信噪比，采用寬光譜高亮度鹵鎢燈作為光源，并通過(guò)準(zhǔn)直透鏡將光線準(zhǔn)直后出射到樣品上。

 可通過(guò)調(diào)節(jié)透鏡焦距，實(shí)現(xiàn)不同大小光斑。

 光源還可增加濾光片，實(shí)現(xiàn)不同顏色單色光入射。

2 光源支架

 通過(guò)半圓形光源支架，實(shí)現(xiàn)光源0-180°入射角度調(diào)節(jié)。

 采用高精度步進(jìn)電機(jī)，配合軟件控制，保證入射角度精確性。

3.可調(diào)樣品支架

 樣品可被夾持在樣品支架上。

 樣品支架可上下調(diào)節(jié)，通過(guò)光源及探測(cè)器對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記，實(shí)現(xiàn)樣品位置調(diào)節(jié)及對(duì)準(zhǔn)。

4.探測(cè)器

 采用硅探測(cè)器，探測(cè)范圍300nm-1000nm。

 進(jìn)行散射特性**測(cè)量時(shí)，可選裝探測(cè)系統(tǒng)，主要包括成像光學(xué)系統(tǒng)、斬波器、單色儀、探測(cè)器和鎖相放大器等。成像光學(xué)系統(tǒng)對(duì)樣品漫射板測(cè)點(diǎn)成像，像位于單色儀入射狹縫。復(fù)色光進(jìn)入單色儀入射狹縫經(jīng)準(zhǔn)直后由光柵分光，再經(jīng)會(huì)聚鏡會(huì)聚***探測(cè)器，探測(cè)器將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，由鎖相放大器放大并根據(jù)斬波器頻率提取信號(hào)獲得光譜DN值。

5.探測(cè)器支架及旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)

 探測(cè)器支架及旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)，可使探測(cè)器在整個(gè)球面范圍內(nèi)移動(dòng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)反射和透射信號(hào)測(cè)量。

 采用高精度步進(jìn)電機(jī)，配合軟件控制，保證反射和透射角度精確性。

6.軟件部分

為了提高測(cè)量速度和精度，特別為裝置開(kāi)發(fā)了測(cè)控軟件，支持多種幾何條件下散射特性一次性自動(dòng)測(cè)量。首先進(jìn)行光源入射輻亮度測(cè)量，而后對(duì)樣品漫射板設(shè)定幾何條件反射輻亮度進(jìn)行測(cè)量，如此循環(huán)直***完成所有設(shè)定幾何條件的散射特性測(cè)量為止，軟件直接輸出散射特性曲線。

軟件測(cè)試界面